AWR設(shè)計環(huán)境（現(xiàn)隸屬于Cadence）是進行單片微波集成電路（MMIC）開發(fā)的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)軟件平臺之一。下面詳細(xì)介紹如何使用AWR軟件進行MMIC產(chǎn)品開發(fā)的設(shè)計流程。
一、軟件環(huán)境配置
- 安裝AWR設(shè)計套件，確保包含Microwave Office、Visual System Simulator等核心模塊
- 配置工藝設(shè)計套件（PDK），導(dǎo)入代工廠提供的MMIC工藝文件
- 設(shè)置設(shè)計規(guī)則檢查（DRC）和電路參數(shù)提取（LPE）環(huán)境
二、電路設(shè)計流程
- 系統(tǒng)規(guī)劃階段
- 使用Visual System Simulator進行系統(tǒng)級仿真
- 定義MMIC的性能指標(biāo)：增益、噪聲系數(shù)、線性度等
- 進行預(yù)算分析和架構(gòu)選擇
- 電路設(shè)計階段
- 在Microwave Office中創(chuàng)建電路原理圖
- 選擇適當(dāng)?shù)挠性雌骷℉EMT、HBT等）和無源元件
- 使用內(nèi)建元件庫或自定義模型
- 仿真分析
- 執(zhí)行線性仿真：S參數(shù)、穩(wěn)定性分析
- 進行非線性仿真：諧波平衡、瞬態(tài)分析
- 使用負(fù)載牽引進行功率放大器設(shè)計
- 執(zhí)行電磁仿真（EM）分析布局效應(yīng)
三、版圖設(shè)計
- 使用AWR Layout工具創(chuàng)建版圖
- 遵循代工廠的設(shè)計規(guī)則
- 集成無源元件的電磁模型
- 進行版圖與原理圖（LVS）對比驗證
四、設(shè)計驗證與優(yōu)化
- 執(zhí)行蒙特卡洛分析評估工藝變化影響
- 進行良率分析和設(shè)計優(yōu)化
- 生成制造文件（GDSII）
- 準(zhǔn)備測試方案和測量計劃
五、軟件使用技巧
- 利用AWR API實現(xiàn)自動化設(shè)計流程
- 使用設(shè)計模板加快開發(fā)進度
- 集成第三方工具（如MATLAB）進行數(shù)據(jù)處理
- 建立設(shè)計規(guī)范和版本管理
通過熟練掌握AWR軟件的各項功能，工程師能夠高效完成從概念到制造的完整MMIC設(shè)計流程，確保產(chǎn)品性能滿足設(shè)計要求并提高一次流片成功率。
